Please use this identifier to cite or link to this item: http://cmuir.cmu.ac.th/jspui/handle/6653943832/13111
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorยรรยง เตชะวิจิตร์en_US
dc.date.accessioned2014-09-17T09:32:27Z-
dc.date.available2014-09-17T09:32:27Z-
dc.date.issued2550en_US
dc.identifier.govdocว 621.3815 ย177กen_US
dc.identifier.urihttp://search.lib.cmu.ac.th/search/?searchtype=.&searcharg=b1413293en_US
dc.identifier.urihttp://cmuir.cmu.ac.th/handle/6653943832/13111-
dc.language.isothaen_US
dc.publisherเชียงใหม่ : บัณฑิตวิทยาลัย มหาวิทยาลัยเชียงใหม่, 2550en_US
dc.subjectอุตสาหกรรมแผงวงจรไฟฟ้า -- การลดปริมาณของเสียen_US
dc.subjectแผงวงจรไฟฟ้า -- การผลิตen_US
dc.subjectการออกแบบการทดลองen_US
dc.titleการลดของเสียจากกระบวนการล้างฟิล์มป้องกันการชุบทองของแผงวงจรแบบอ่อนด้วยเทคนิคการออกแบบการทดลอง = Gold mask dry film defect reduction of flexible printed circuit by design of experiment technique / ยรรยง เตชะวิจิตร์;"Gold mask dry film defect reduction of flexible printed circuit by design of experiment technique"en_US
dc.typeการค้นคว้าแบบอิสระen_US
Appears in Collections:ENG: Independent Study (IS)



Items in CMUIR are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.